CEM

·       Cet enseignement aborde le problème d'émission électromagnétique conduite produite par les convertisseurs de puissance, l’une des causes fréquentes de non-conformité CEM.

·       Les objectifs de ce cours d'introduction sont multiples :

o   Présenter le contexte de la CEM ;

Définir le concept d'émission conduite et l'illustrer expérimentalement

Cette matière comporte 1 volume de cours et 1 BE

·       Cours « CEM des Convertisseurs »

·       Un BE « CEM »

CEM des Convertisseurs (CM 7H00, resp. G. Fontes & A. Boyer)

Programme :

·       Présenter brièvement les techniques de mesure standards de l'émission conduite (ex : EN55022, CISPR25) ;

·       Identifier les sources et les modes de propagation du bruit conduit produit par un convertisseur de puissance (application à des structures d'alimentation à découpage typique tel que des convertisseurs buck, flyback) ;

·       Présenter un modèle électrique simplifié pour la simulation de l'émission conduite d'un convertisseur de puissance ;

·       Décrire les principales structures de filtre CEM (en mode commun et différentiel), les composants typiques de filtrage et leur dimensionnement ;

·       Présenter et illustrer plusieurs règles de conception faible émission des alimentations à découpage.

BE « CEM » (BE 7H00, resp. A. Boyer & G. Fontes)

Programme :

·       Projet d'application du CM "Compatibilité Electromagnétique" (CEM) : Filtrage de l’émission conduite, produite par un convertisseur AC-DC Flyback.

·       L’objectif de ce bureau d’étude est de dimensionner le filtre CEM en entrée d’une alimentation à découpage de type Flyback, afin de le rendre le produit compatible avec le standard EN55022.

·       L’étude s’appuiera sur la simulation (logiciels IC-EMC et WinSPICE/LTSPICE), ainsi que sur des librairies de composants passifs.

·       Les résultats de simulation de l'atténuation du filtre seront comparés à des résultats de mesures expérimentales.

·       cellule de commutation, structures de base, physique et technologie de base des semi-conducteurs,

·       méthodologie d'analyse séquentielle et temporelle des formes d'ondes,

·       principe de la commande rapprochée MLI de l'onduleur.