GENIE DU LOGICIEL ET DES SYSTEMES
- Crédits ECTS : 5
- Code : N7EN11
En bref
Objectifs
Étudier les principaux principes de l’ingénierie du logiciel. Comprendre et mettre en oeuvre les patrons de conception et l’ingénierie dirigée par les modèles
Bibliographie
• Gamma, Erich; Richard Helm, Ralph Johnson, and John Vlissides (1995). Design Patterns : Elements of Reusable Object-Oriented Software. Addison-Wesley. ISBN 0-201-63361-2.
• Mark Grand. Patterns in Java: A Catalog of Reusable Design Patterns Illustrated with UML, volume 1. Wiley, 2 edition, 2002.
• Sommerville, Ian (2007) [1982]. Software Engineering (8th ed.). Harlow,England : Pearson Education. ISBN 0-321-31379-8
• Model-Driven Software Development : Technology, Engineering, Management (Wiley Software Patterns Series) Thomas Stahl, Markus Voelter, ISBN0-470-02570-0.
• EMF: Eclipse Modeling Framework 2.0 2nd, David Steinberg, Frank Budinsky, Marcelo Paternostro, Ed Merks, Addison-Wesley Professional, 2009 ISBN : 0321331885.
Organisation
- Ingénierie Dirigée par les Modèles (IDM) (Coefficient 75 )
- Métaprogrammation et Tests (Coefficient 25 )
Session 1 ou session unique - Contrôle des connaissances
| Modalité | Nature | Coefficient | Remarques |
|---|---|---|---|
| CC (contrôle continu) | Oral/Ecrit | 20% | Examen IDM & Metaprogrammat° et tests |
| CC (contrôle continu) | Oral/Ecrit | 100% | Examen IDM & Metaprogrammat° et tests |
| CC (contrôle continu) | Travaux Pratiques | 40% | TP-IDM |
| CC (contrôle continu) | Projet | 40% | Projet IDM |
Session 2 - Contrôle des connaissances
| Modalité | Nature | Coefficient | Remarques |
|---|---|---|---|
| CC (contrôle continu) | Oral/Ecrit | 20% | Examen IDM & Metaprogrammat° et tests |
| CC (contrôle continu) | Oral/Ecrit | 100% | Examen IDM & Metaprogrammat° et tests |
| CC (contrôle continu) | Travaux Pratiques | 40% | TP-IDM |
| CC (contrôle continu) | Projet | 40% | Projet IDM |
