IDM
Objectifs
- Introduction de l’ingénierie dirigée par les modèles
- Comprendre et mettre en œuvre la modélisation des DSLs à un haut niveau d'abstraction
- Manipulations des modèles aux différents niveaux d'abstraction suivant la classification standard de l'OMG
- Transformation modèles vers code et vis versa
- Comprendre les DSMLs et DSLs
Description
- Eclipse EMF
- La sémantique abstraite de métamodèle avec le langage Ecore
- La sémantique statique avec Complete OCL
- La syntaxe textuelle avec Xtext
- La syntaxe graphique avec Sirius
- La transformation des modèles avec Acceleo et Java
Bibliographie
- Gamma, Erich; Richard Helm, Ralph Johnson, and John Vlissides (1995). Design Patterns : Elements of Reusable Object-Oriented Software. Addison-Wesley. ISBN 0-201-63361-2.
- Mark Grand. Patterns in Java: A Catalog of Reusable Design Patterns Illustrated with UML, volume 1. Wiley, 2 edition, 2002.
- Sommerville, Ian (2007) [1982]. Software Engineering (8th ed.). Harlow, England : Pearson Education. ISBN 0-321-31379-8
- Model-Driven Software Development : Technology, Engineering, Management (Wiley Software Patterns Series) Thomas Stahl, Markus Voelter, ISBN
0-470-02570-0.
- EMF: Eclipse Modeling Framework 2.0 2nd, David Steinberg, Frank Budinsky, Marcelo Paternostro, Ed Merks, Addison-Wesley Professional, 2009 ISBN:0321331885.
Pré-requis nécessaires
- UML
- Java
Session 1 ou session unique - Contrôle des connaissances
Modalité | Nature | Coefficient | Remarques |
---|---|---|---|
CT (contrôle terminal) | Oral/Ecrit | 60% | Examen IDM |
CT (contrôle terminal) | Oral/Ecrit | 100% | Examen IDM |
CT (contrôle terminal) | Oral/Ecrit | 40% | Oral IDM |
Session 2 - Contrôle des connaissances
Modalité | Nature | Coefficient | Remarques |
---|---|---|---|
CT (contrôle terminal) | Oral/Ecrit | 60% | Examen IDM |
CT (contrôle terminal) | Oral/Ecrit | 100% | Examen IDM |
CT (contrôle terminal) | Oral/Ecrit | 40% | Oral IDM |