Test des circuits et simulation de faute

À l’issue de ce cours, les étudiants seront capables de :

• Comprendre les mécanismes destructeurs affectant les circuits électroniques et les techniques de protection associées.

• Maîtriser les concepts fondamentaux de la sûreté de fonctionnement des circuits intégrés.

• Analyser et modéliser les fautes dans les circuits logiques et mémoires.

• Concevoir et appliquer des stratégies de génération de tests pour détecter les fautes dans les circuits logiques, séquentiels et mémoires.

• Mettre en œuvre des méthodologies de conception en vue du test (DFT) pour améliorer la testabilité des circuits.

• Explorer les techniques avancées de test pour les circuits analogiques, mixtes et RF.

• Utiliser des outils de simulation pour évaluer la robustesse et la fiabilité des circuits électroniques.

1. Introduction

• Présentation des enjeux du test et de la simulation de fautes.

• Importance de la sûreté de fonctionnement dans les circuits intégrés modernes.

2. Notions de base

• Mécanismes destructeurs : usure, vieillissement, défaillances physiques.

• Techniques de protection : redondance, durcissement des circuits.

• Sûreté de fonctionnement : fiabilité, disponibilité, maintenabilité.

3. Test des circuits logiques

• Fautes et modèles : fautes classiques (stuck-at, transition, retard…), modèles de fautes.

• Génération du test : ATPG (Automatic Test Pattern Generation), couverture de fautes.

• Circuits séquentiels : test des registres et automates.

• Test des mémoires : défaillances spécifiques, algorithmes de test mémoire (March, BIST).

4. Conception en vue du test (DFT – Design for Testability)

• Principe : améliorer la testabilité dès la conception du circuit.

• Techniques génériques : scan chains, testabilité structurée.

• Test semi-intégré (BIT – Built-In Test) : principes et applications.

• Test intégré (BIST – Built-In Self-Test) : architectures et implémentation.

5. Test des circuits analogiques, mixtes et RF

• Spécificité : différences avec le test des circuits numériques.

• Méthodes de test : test paramétrique, test fonctionnel.

• DFT pour circuits analogiques et RF : stratégies et défis.